【摘要】本發明提供一種現場可編程門陣列中RAM的三 維讀寫方法，屬于通訊技術領域，該方法包括：(1)RAM的總 數據個數L＝X*Y，將現場可編程門陣列中RAM的數據結構 構造成長方體；(2)長方體沿a方向的高度為W，沿b方向的長 度為X或Y
【摘要】 一種慣性恒星羅盤的快速精確誤差建模與優化方法，本發明涉及一種快速確定慣性恒星羅盤誤差模型及模型精確優化方法。該方法特點是將慣性恒星羅盤光學系統、敏感器件、MEMS慣性器件和處理系統等四項主要誤差源看作一整體進行統一快速誤差建模及優化。具體實現為：首先分析慣性恒星羅盤所涉及四項誤差源特點，得出表征各項誤差特性的簡單模型；后初始化遺傳規劃(GP)算法和改進遺傳算法(GA)，將簡單模型作為GP算法輸入，組成空間，來快速求解具有最佳適應度的整體誤差模型；最后利用改進GA對整體誤差模型進行快速精確優化。本發明可有效解決慣性恒星羅盤四項主要誤差單獨建模速度慢，總體精確建模困難的問題；可用于對組合導航系統、組合裝置等的快速精確建模和優化。 【專利類型】發明申請 【申請人】北京航空航天大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100083北京市海淀區學院路37號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610165504.4 【申請日】2006-12-21 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1975330A 【公開公告日】2007-06-06 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100437029C 【授權公告日】2008-11-26 【授權公告年份】2008.0 【發明人】房建成; 全偉; 徐帆; 王科; 鐘慧敏 【主權項內容】1、一種慣性恒星羅盤的快速精確誤差建模與優化方法，其特征在于包括以下步驟： (1)利用誤差分析方法，分析慣性恒星羅盤的光學系統、敏感器件、MEMS慣性器 件和處理系統四項主要誤差源的特性，得出表征各項誤差特性的簡單誤差模型； (2)初始化遺傳規劃算法和改進遺傳算法參數； (3)將所述四項簡單誤差模型作為遺傳規劃算法的輸入，組成空間，來求解 具有最佳適應度的整體誤差模型； (4)利用改進遺傳算法對由遺傳規劃算法所得到的整體誤差模型進行優化，最終 實現慣性恒星羅盤的快速建模與優化。 【當前權利人】北京航空航天大學 【當前專利權人地址】北京市海淀區學院路37號 【統一社會信用代碼】12100000400011227Y 【被引證次數】TRUE 【家族被引證次數】TRUE
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