【摘要】一種壞點檢測方法及其電路,用于對圖像傳感器 采集的大小為m×n的圖像進行壞點檢測,該電路包括同步檢 測模塊、檢測控制模塊、像素保存模塊、壞點檢測運算模塊和 壞點位置保存模塊。先選定對每幀圖像處理的列數q和壞點運 算矩陣大小K×K且K
【專利類型】外觀設計 【申請人】方維行 【申請人類型】個人 【申請人地址】100085北京市海淀區上地信息產業基地創業路18號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200630098540.4 【申請日】2006-10-31 【申請年份】2006 【公開公告號】CN300706255D 【公開公告日】2007-11-07 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN300706255D 【授權公告日】2007-11-07 【授權公告年份】2007.0 【發明人】方維行 【主權項內容】無 【當前權利人】方維行 【當前專利權人地址】北京市海淀區上地信息產業基地創業路18號
未經允許不得轉載:http://www.mhvdw.cn/1776293578.html
喜歡就贊一下






