【摘要】一種對位精度檢測裝置,其具有基板、集成電路、 以及檢測單元。基板具有相鄰的第一及第二定位金屬墊。集成 電路配置在基板上,且具有相鄰的第一及第二定位凸塊。第一 及第二定位凸塊分別相對于第一及第二定位金屬墊。檢測單元 耦接基板。當第一及
【專利類型】外觀設計 【申請人】曾瑞春 【申請人類型】個人 【申請人地址】臺灣省臺南市公學路四段417-100號 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200630196500.3 【申請日】2006-12-04 【申請年份】2006 【公開公告號】CN300716562D 【公開公告日】2007-12-05 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN300716562D 【授權公告日】2007-12-05 【授權公告年份】2007.0 【發明人】曾瑞春 【主權項內容】無 【當前權利人】曾瑞春 【當前專利權人地址】臺灣省臺南市公學路四段417-100號
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