【摘要】本實用新型為一種具有插裝鏡架腳功能的帽，是解決現有帽子不能將如眼鏡等插裝在帽子上而造成丟失或損壞的技術問題。它至少包括有帽體，在其帽體上具有一對插裝眼鏡架腳的插孔，該一對插孔對稱地設在帽體的兩側。該帽子上設有插孔，使用者在外出活動或
【摘要】 一種高通量多參數圖像表面等離子體諧振測試儀，涉及檢測技術，為立式菱形杠桿同步掃描結構；在正三角形光學棱鏡的水平上平面上，設有陣列表面等離子體諧振芯片和微測量池，兩者水平疊置，微測量池在諧振芯片上方，微測量池由輸入管和輸出管與自動進樣系統連通；微測量池中設有至少一條通道流通池；光學系統、機械掃描系統、數據采集系統、自動進樣系統分別與嵌入式微控制器電連接，微控制器與計算機相連，計算機預裝信息采集處理軟件和系統操作控制軟件，操控測試儀，可進行機械運動掃描角度調制，或固定夾角內角度調制，或定點監測光強變化等三種工作模式測試；并采用圖像采集信號，配以全自動采樣進樣系統，實現多參數定量測試，高通量檢測。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國科學院電子學研究所 【申請人類型】科研單位 【申請人地址】100080北京市海淀區北四環西路19號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610066542.4 【申請日】2006-03-30 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101046446A 【公開公告日】2007-10-03 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100535641C 【授權公告日】2009-09-02 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G01N21/55 【發明人】崔大付; 蔡浩原; 王軍波; 李亞亭; 梁金慶; 劉長春; 王于杰; 鄭自攀 【主權項內容】1、一種高通量多參數圖像表面等離子體諧振測試儀，包括光學系統、 圖像采集系統、機械掃描系統、陣列多單元表面等離子體諧振芯片及反 應測試池、自動采樣進樣流通系統以及系統操作控制、數據采集處理軟 件系統；其特征在于，還包括測試儀基座、光學平臺、連桿組、滑塊、 導軌、螺桿、電機、傳感器、光源、CCD圖像采集器件和光學棱鏡的光、 機、電一體化機械掃描和信息采集系統，機械掃描結構為立式菱形杠桿 同步掃描結構； 在正三角形光學棱鏡的水平上平面上，設有陣列表面等離子體諧振 芯片和微測量池，兩者水平疊置，微測量池在諧振芯片上方，微測量池 上連有輸入管和輸出管，輸入管和輸出管的另一端與自動進樣系統相連 通； 微測量池中設有至少一條通道流通池； 光學系統、機械掃描系統、數據采集系統、自動進樣系統分別與嵌 入式微控制器電連接，微控制器又通過RS232端口與計算機相連，計算 機預裝有信息采集處理軟件和系統操作控制軟件，操控測試儀，進行機 械運動掃描角度調制，或固定夾角內角度調制，或定點監測光強變化測 試；并可采用圖像采集信號，配以全自動采樣進樣系統，實現多參數定 量測試，高通量檢測。 ： 【當前權利人】中國科學院電子學研究所 【當前專利權人地址】北京市海淀區北四環西路19號 【統一社會信用代碼】12100000400012406C 【引證次數】2.0 【被引證次數】12 【自引次數】2.0 【被自引次數】2.0 【被他引次數】10.0 【家族引證次數】4.0 【家族被引證次數】13
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