【摘要】一種用于研究氧化鋁顆粒剖面結構的制樣方法， 涉及一種用于固體樣品表面微觀結構及成分研究的掃描電鏡 的試樣制備方法，特別適用于300°下不發生熱變化的氧化鋁 顆粒剖面樣品的制備。制樣的制備過程是將氧化鋁顆粒撒入熔 化的錫中，使顆粒均勻
【摘要】 本實用新型屬于大氣壓放電冷等子體發生器技術領域，其特征在于：在所述發生器內的進氣口、或放電區、或出氣口設有平板型的或回轉型的縮放通道結構，從而構成平板型的或同軸型的大氣壓放電冷等離子體發生器，并相應提出了發生器陣列。所述的縮放通道結構由連接到進氣口的壓縮部、喉部、擴展部依次貫通形成，使在冷等離子體工作氣體質量流量增加不多的情況下，發生器出口的冷等離子體射流速度有顯著提高，從而大大提高冷等離子體射流中活性粒子的有效空間作用范圍。 【專利類型】實用新型 【申請人】清華大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100084北京市100084－82信箱 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200620022787.2 【申請日】2006-02-24 【申請年份】2006 【公開公告號】CN200976707Y 【公開公告日】2007-11-14 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN200976707Y 【授權公告日】2007-11-14 【授權公告年份】2007.0 【發明人】李和平; 包成玉; 孫文廷; 王華博 【主權項內容】1.基于縮放通道結構的大氣壓放電冷等離子體發生器，其特征在于，所述發生器是基于平 板型縮放通道結構的平板型大氣壓放電冷等離子體發生器，含有： 接有射頻電源的一對電極，由上、下兩塊平板構成，該電極中間有支撐用的絕緣體； 平板型縮放通道結構，形成于所述上、下兩塊平板之間，所述結構由同進氣口相連的壓 縮部、喉部、擴展部依次貫通而成。 【當前權利人】清華大學 【當前專利權人地址】北京市100084－82信箱 【專利權人類型】公立 【統一社會信用代碼】12100000400000624D 【被引證次數】2 【被他引次數】1.0 【家族被引證次數】2
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