【摘要】本發明提供氨基酸短肽螯合物，其為具有式－ [－ C8H8O6N2M·X H2O －] n－(I)的天冬氨酸短肽螯合 物，或者為具有式－[－ C10H12O6N2M·X H2O －] n－(II)的谷氨酸短肽螯合物， 其中M選自Ca、
【摘要】 本發明公開了一種自動生成集成電路檢測數據 的方法及裝置，用于測試集成電路是否符合模塊設計規格，用 以解決現有技術中測試集成電路是否符合模塊設計規格的操 作無法實現自動化的問題。本發明方法，設置一測試單元，該 測試單元存儲有集成電路的模塊設計規格數據，該方法包括步 驟：所述測試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所 述集成電路的模塊設計規格數據中該寄存器的默認值進行比 較，當所述寄存器的值與該寄存器的默認值不相同時，將該寄 存器的模塊設計規格數據作為集成電路的檢測數據。本發明還 公開了一種自動生成集成電路檢測數據的裝置。本發明用于實 現根據模塊設計規格獲得集成電路的檢測數據的自動化，提高 了工作效率，以及檢測數據的準確度。 【專利類型】發明申請 【申請人】北京中星微電子有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】100083北京市海淀區學院路35號世寧大廈15層 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610114561.X 【申請日】2006-11-15 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1952944A 【公開公告日】2007-04-25 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100562875C 【授權公告日】2009-11-25 【授權公告年份】2009.0 【發明人】陳洪 【主權項內容】1、一種自動生成集成電路檢測數據的方法，其特征在于，設置一測試單 元，該測試單元存儲有集成電路的模塊設計規格數據，該方法包括步驟： 所述測試單元讀取集成電路中寄存器的值，并將該值和所述集成電路的模 塊設計規格數據中該寄存器的默認值進行比較，當所述寄存器的值與該寄存器 的默認值不相同時，將該寄存器的模塊設計規格數據作為集成電路的檢測數 據。 【當前權利人】海門江涌投資開發有限公司 【專利權人類型】有限責任公司(外國法人獨資) 【統一社會信用代碼】911101087002349407 【被引證次數】1 【家族被引證次數】1
未經允許不得轉載：http://www.mhvdw.cn/1776154022.html
喜歡就贊一下
