【摘要】一種相位檢測器，用來檢測一第一信號與一第二 信號之間的一相位差，該相位檢測器包含有：一差異決定模塊， 用來于該第一信號的邏輯準位不同于該第二信號的邏輯準位 時，發出具有一持續時間的一脈沖信號；一相位領先落后決定 模塊，用來發出一檢測
【摘要】 一種碎形化天線(Fractal Type Antenna)，該碎形化天線由二對稱排列的天線組件所構成，布設在一介電材料的一側面上，形成一雙偶極(dipole)天線，各該天線組件是一由預定形狀的金屬微帶依一碎形化運算法(fractalalgorithm)反復演化(iteration)而成，所述金屬微帶上彼此相鄰的一端分別連接有一匹配網絡，所述匹配網絡間預留有一間隙，該介電材料的另一對應側面上，在對應其中一天線組件及該間隙的位置，設有一金屬片，一同軸電纜的中芯線貫穿該介電材料后，與該耦合用金屬片相連接，該同軸電纜的遮蔽線則直接與另一天線組件的匹配網絡相連接，在該天線及該同軸電纜間形成一電容耦合式的Balun接口，使天線所接收到的電波信號能順利地被傳送至該同軸電纜。 【專利類型】發明申請 【申請人】黃啟芳 【申請人類型】個人 【申請人地址】臺灣省臺北市中正區辛亥路一段8號12樓之2 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610072020.5 【申請日】2006-04-04 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101051705A 【公開公告日】2007-10-10 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN101051705B 【授權公告日】2011-06-29 【授權公告年份】2011.0 【發明人】黃啟芳; 吳武順 【主權項內容】1、一種碎形化天線，包括： 一介電材料； 二對稱排列的天線組件，布設在該介電材料的一側面上，以形成一雙偶 極天線，各該天線組件分別由一金屬微帶依一碎形化運算法演化而成，該二 金屬微帶上彼此相鄰的一端分別連接有一匹配網絡，各該匹配網絡間并預留 有一間隙； 一耦合用金屬片，布設在該介電材料的另一側面上對應于其中一天線組 件及該間隙的位置； 一同軸電纜，其中芯線自該間隙位置貫穿該介電材料后，與該耦合用金 屬片相連接，其遮蔽線與其中另一天線組件的匹配網絡相連接。 【當前權利人】黃啟芳 【當前專利權人地址】中國臺灣臺北市中正區辛亥路一段8號12樓之2 【被引證次數】2 【被他引次數】2.0 【家族被引證次數】2
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