【摘要】一種硬盤抽取裝置，包含一承架，裝設在該承架 內的二作動件，一可使該二作動件恒反向移動的彈性件，一組 結于該承架的連結單元，一固結于該連結單元的硬盤，及一可 容置該硬盤的機殼。該承架包括一設置有二導孔的前面板，及 各設置有一穿孔的二側
【摘要】 本發明涉及一種具多種測試模式的系統芯片及其測試方法，是以不同的測試目的以及系統芯片面積大小與測試時間長短為考慮，所設計出來的系統芯片及測試方法，利用一測試模式控制單元來選擇所需的測試模式，利用一復用器的多路傳輸功能來控制測試程序的，從而節省系統芯片面積及縮短測試時間，以達成降低生產成本的目的。 【專利類型】發明申請 【申請人】盛群半導體股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】臺灣省新竹市 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610075674.3 【申請日】2006-04-18 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101059546A 【公開公告日】2007-10-24 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G01R31/00; G01R31/28; H01L21/66; H01L27/02 【發明人】余國成; 許文琪; 郭淑華; 蔡榮壵; 林漢宗 【主權項內容】1、一種具多種測試模式的系統芯片的測試方法，其特征在于包括： 輸入一第一控制信號至所述系統芯片的測試模式控制單元，確定一存活測 試模式，該測試模式控制單元輸出一第二控制信號至所述系統芯片的復用器， 控制該復用器進行多路傳輸，并輸出一第三控制信號至所述系統芯片的內部電 路單元，抑制該內部電路單元輸出內部電路信號； 根據所述第二控制信號，經由多路傳輸擷取一存活測試程序； 根據所述存活測試程序，進行測試，并讀取所述系統芯片的內部寄存器的 一暫存值，作為第一輸出信號； 傳輸所述第一輸出信號至所述系統芯片的通用輸入/輸出單元，該通用輸 入/輸出單元連接至一測試機臺；以及 所述測試機臺比對所述第一輸出信號。 該數據由<>整理 【當前權利人】盛群半導體股份有限公司 【當前專利權人地址】臺灣省新竹市 【被引證次數】7 【被他引次數】7.0 【家族被引證次數】7
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