【摘要】一種多層式光學薄膜及其制造方法，其中，該多層式光學薄膜包括：一基層，一具凹凸圖案的中間層連設于該基層上，以及一棱鏡陣列層形成于該圖案中間層之上，由是構成一一體成型的光學薄膜。由其中間層的凹凸圖案與棱鏡陣列層的折射率差異，產生聚光后進
【摘要】 一種根據激光二極管的控制輸入信號而執行系 統參數補償及溫度檢測的方法。測量激光二極管的控制輸入信 號，并比較此控制輸入信號與在已知環境下所測量的參考值。 比較結果可用來調整光驅的系統參數，以補償因為環境改變而 造成的系統誤差或是效能降低。 【專利類型】發明申請 【申請人】聯發科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】臺灣省新竹科學工業園區 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610094209.4 【申請日】2006-06-27 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1905018A 【公開公告日】2007-01-31 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】G11B7/00; G11B7/004; G11B7/125; G11B33/14 【發明人】張智豪 【主權項內容】1.一種補償方法，用以調整一光驅的一系統參數，該光驅包括一激光二 極管，且該激光二極管打出一激光束至一光盤，該補償方法包括： 測量該激光二極管的一控制輸入信號； 通過比較測量到的該控制輸入信號與至少一參考值以調整該系統參數； 其中，該參考值測量于一已知環境下。 【當前權利人】聯發科技股份有限公司 【當前專利權人地址】臺灣省新竹科學工業園區 【被引證次數】4 【被他引次數】4.0 【家族引證次數】18.0 【家族被引證次數】17
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