【專利類型】外觀設計【申請人】車王電子股份有限公司【申請人類型】企業【申請人地址】臺灣省臺中縣【申請人地區】中國【申請人城市】臺灣省【申請號】CN200630151589.1【申請日】2006-05-12【申請年份】2006【公開公告號】C
【摘要】 一種集成電路工藝的數據分析方法，適用分析多個產品的測試結果，這些產品至少經過一線上質量測試、一產品測試與一良率測試。此方法是依照線上質量測試的結果，將這些產品劃分為一正常群組與一異常群組，并依照良率測試的結果將這些產品劃分為一合格群組與一不合格群組。然后進行一分類步驟，定義不合格群組與正常群組的交集為第一問題群組，不合格群組與異常群組的交集為第二問題群組。對此二問題群組或其中之一作分析，即可進一步辨認出造成不合格的主要因素，進而改善之以提升產品良率。 【專利類型】發明申請 【申請人】聯華電子股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣新竹科學工業園區 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610093255.2 【申請日】2006-06-23 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101093470A 【公開公告日】2007-12-26 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100495389C 【授權公告日】2009-06-03 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G06F17/00; G01R31/00; G01R31/28; H01L21/66; H01L21/00 【發明人】張國海; 李啟明; 杜路營; 郭瑞俊 【主權項內容】1、一種集成電路工藝的數據分析方法，適用于分析多個產品的測試結 果，該些產品至少經過線上質量測試、產品測試與良率測試，該方法包括： 依照該線上質量測試的結果，將該些產品劃分為正常群組與異常群組； 依照該良率測試的結果將該些產品劃分為合格群組與不合格群組；以及 進行分類步驟，定義該不合格群組與該正常群組的交集為第一問題群 組，該不合格群組與該異常群組的交集為第二問題群組。 【當前權利人】聯華電子股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹科學工業園區 【被引證次數】8 【被他引次數】8.0 【家族引證次數】5.0 【家族被引證次數】8
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