【摘要】本發明揭示一種芯片內建電感元件，其包括：第 一繞線部及第二繞線部，相互對稱的設置于一基底上的絕緣層 內且相互電連接。第一繞線部及第二繞線部包括至少二同心排 列的半圈型導線部，其中至少一相對外側的半圈型導線部的截 面積小于至少一相對內
【摘要】 一種晶片搬運設備的校正裝置，包括反射元件、取像模塊、圖像處理模塊與屏幕。其中，反射元件配置于晶片承載裝置旁，取像模塊配置于反射元件反射光線的光學路徑上。反射元件適于將晶片承載裝置內的圖像反射至取像模塊，而取像模塊適于擷取晶片承載裝置內的圖像。圖像處理模塊耦接至取像模塊，并且當搬運裝置伸入晶片承載裝置內時，圖像處理模塊適于分析取像模塊所擷取到的圖像，以判斷搬運裝置的位置是否正常。之后，再根據分析的結果調整搬運裝置的位置，如此可精確又實時地調整搬運裝置的位置。 【專利類型】發明申請 【申請人】力晶半導體股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣新竹市 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610093847.4 【申請日】2006-06-20 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101092034A 【公開公告日】2007-12-26 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】B25J9/22 【發明人】吳展村; 林瑞良 【主權項內容】1、一種晶片搬運設備的校正裝置，適于對晶片搬運設備進行校正，其 中該晶片搬運設備包括搬運裝置，其適于將多個晶片搬離或置入晶片承載裝 置的多個容置槽中，而該晶片搬運設備的校正裝置包括： 反射元件，配置于該晶片承載裝置旁； 取像模塊，配置于該反射元件反射光線的光學路徑上，其中該反射元件 適于將該晶片承載裝置內的圖像反射至該取像模塊，而該取像模塊適于擷取 該晶片承載裝置內的該圖像； 圖像處理模塊，耦接至該取像模塊，其中當該搬運裝置伸入該晶片承載 裝置內時，該圖像處理模塊適于分析該取像模塊所擷取到的該圖像，以判斷 該搬運裝置的位置是否正常；以及 屏幕，耦接至該取像模塊，以顯示該取像模塊所擷取到的該圖像。 【當前權利人】力晶半導體股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹市 【被引證次數】5 【被自引次數】1.0 【被他引次數】4.0 【家族被引證次數】5
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