【專利類型】外觀設(shè)計(jì)【申請人】莊世鴻【申請人類型】個(gè)人【申請人地址】臺(tái)灣省臺(tái)北縣永和市中和路343號(hào)14樓之2【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】臺(tái)灣省【申請?zhí)枴緾N200630052253.X【申請日】2006-02-15【申請年份】2006
【摘要】 本實(shí)用新型公開了一種光學(xué)測試治具，用以測試一鏡頭組件，其包括有一校正基準(zhǔn)裝置及一相對應(yīng)的測試裝置，而校正基準(zhǔn)裝置具有至少一光源及一調(diào)正幕，且測試裝置具有一用以固定鏡頭組件的固定機(jī)構(gòu)、一調(diào)整鏡頭組件焦距的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、及一設(shè)置于鏡頭組件與調(diào)正幕間的近攝濾鏡，其中近攝濾鏡用以縮短校正基準(zhǔn)裝置與測試裝置間的相對距離，而驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)通過蝸輪帶動(dòng)齒輪組以調(diào)整鏡頭組件的焦距。。： 【專利類型】實(shí)用新型 【申請人】華晶科技股份有限公司 【申請人類型】企業(yè) 【申請人地址】中國臺(tái)灣新竹 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】臺(tái)灣省 【申請?zhí)枴緾N200620139354.5 【申請日】2006-11-27 【申請年份】2006 【公開公告號(hào)】CN200989846Y 【公開公告日】2007-12-12 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN200989846Y 【授權(quán)公告日】2007-12-12 【授權(quán)公告年份】2007.0 【IPC分類號(hào)】G01M11/02 【發(fā)明人】呂俊彥; 梁仕儒; 陳耀禮 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1.一種光學(xué)測試治具，用以測試一鏡頭組件，其特征在于，包括有： 一校正基準(zhǔn)裝置，其具有至少一光源及一調(diào)正幕；以及 一測試裝置，對應(yīng)于該校正基準(zhǔn)裝置，該測試裝置包括有： 一固定機(jī)構(gòu)，該鏡頭組件固定于該固定機(jī)構(gòu)，并且該鏡頭組件對應(yīng)于該調(diào) 正幕； 一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)，連結(jié)于該鏡頭組件，用以調(diào)整該鏡頭組件的焦距；以及 一近攝濾鏡，設(shè)置于該鏡頭組件與該調(diào)正幕間的光軸位置，用以縮短該校 正基準(zhǔn)裝置與該測試裝置間的相對距離。 【當(dāng)前權(quán)利人】華晶科技股份有限公司 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】中國臺(tái)灣新竹 【被引證次數(shù)】6 【被自引次數(shù)】2.0 【被他引次數(shù)】4.0 【家族被引證次數(shù)】6
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