【摘要】本實用新型是一種液晶顯示器玻璃基板的承載架清洗裝置，其至少包含一送料區；一設置于上述送料區一側的處理單元；一設置于處理單元一側的吹干機構，該吹干機構具有至少一風刀部；一烘干機構，該烘干機構用以將在該承載架上剩余的水分蒸發，確保該承載
【摘要】 一種熔絲檢查電路及其檢查方法，該電路包括：由系統電壓源所驅動的第一檢查電路，檢查熔絲的第一端的電壓值，以輸出第一參考電壓；由系統電壓源所驅動的第二檢查電路，檢查熔絲的第二端的電壓值，以輸出第二參考電壓；模擬比較器，根據第一參考電壓與第二參考電壓的差值，判斷熔絲是否已被燒斷。在熔絲的燒錄過程中，第一參考電壓與第二參考電壓的差值較小，以延長模擬比較器的反應時間，在熔絲的讀取過程中，第一參考電壓與第二參考電壓的差值較大，以縮短模擬比較器的反應時間。 【專利類型】發明申請 【申請人】富晶半導體股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610066837.1 【申請日】2006-03-29 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101047036A 【公開公告日】2007-10-03 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100550208C 【授權公告日】2009-10-14 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G11C17/18; G11C17/14 【發明人】黃一洲; 吳曉龍 【主權項內容】1.一種熔絲檢查電路，包括： 系統電壓源； 第一檢查電路，由所述系統電壓源所驅動，檢查熔絲的第一端的 電壓值，以輸出第一參考電壓； 第二檢查電路，由所述系統電壓源所驅動，檢查熔絲的第二端的 電壓值，以輸出第二參考電壓；以及 模擬比較器，根據第一參考電壓與第二參考電壓的差值，判斷熔 絲是否已被燒斷，其中，在熔絲的燒錄過程中，第一參考電壓與第二 參考電壓的差值小，以延長模擬比較器的反應時間，在熔絲的讀取過 程中，第一參考電壓與第二參考電壓的差值大，以縮短模擬比較器的 反應時間。。 【當前權利人】富晶半導體股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣 【引證次數】1.0 【被引證次數】4 【他引次數】1.0 【被他引次數】4.0 【家族引證次數】5.0 【家族被引證次數】4
未經允許不得轉載：http://www.mhvdw.cn/1776657430.html
喜歡就贊一下
