【摘要】本發明提供一種可調節感測元件鏡頭偏差的方法及其封裝結構。該封裝結構包括自下而上布設的承載基板、感光芯片及透光元件以及包覆于該等元件外部的框架。感光芯片具有第一鍵合區，承載基板具有第二鍵合區，若干金屬連接線的兩端分別鍵合于該兩鍵合區。
【摘要】 一種用于測試圖像傳感器的承接座，其包含一基座和一高透光率的板材。所述基座具有一可放置待測試圖像傳感器的容室，所述容室 的側壁可以限定所述圖像傳感器于待測位置。又，所述板材是固定于所述基座上，并與所述側壁鄰接形成所述容室的一封閉端。所述圖像傳感器是由相對于所述基座的開放端置入所述容室內，且將所述圖像傳感器的圖像傳感區抵靠于所述板材表面。所述板材的面積要大于所述圖像傳感區的面積，因此測試的光線可充分進入所述圖像傳感區內。 【專利類型】實用新型 【申請人】原相科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200620002361.0 【申請日】2006-02-17 【申請年份】2006 【公開公告號】CN2916645Y 【公開公告日】2007-06-27 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN2916645Y 【授權公告日】2007-06-27 【授權公告年份】2007.0 【IPC分類號】G01R31/00; H01L21/66; G01M11/00 【發明人】潘敬忠; 翁煥翔 【主權項內容】1.一種用于測試圖像傳感器的承接座，可使至少一待測試的圖像傳感器限定于測試位 置，并讓測試光線照射所述圖像傳感器的圖像傳感區，其特征在于包含： 一基座，具有一可放置所述圖像傳感器的容室，所述容室的側壁可以限定所述圖 像傳感器于所述測試位置；和 一高透光率的板材，是固定于所述基座且和所述側壁相鄰接，所述板材的第一表 面可托住所述圖像傳感器； 其中所述板材的面積大于所述圖像傳感區的面積，測試光線可穿透所述板材而進 入所述圖像傳感區內。。 【當前權利人】原相科技股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣 【被引證次數】7 【被他引次數】7.0 【家族被引證次數】7
未經允許不得轉載：http://www.mhvdw.cn/1776573084.html
喜歡就贊一下
