【摘要】本發明屬于形貌測量，尤其涉及低反射率樣品的 非連續表面微觀形貌測量技術領域，其特征在于，包含：單縱 模微片激光器，依次放置在其發射端軸線上的透鏡和分光鏡， 依次放置在分光鏡反射光路上的透鏡和光電探測器，依次放置 在其透射光路上的移頻
【摘要】 本發明涉及一種制作光纖光柵高重復性的控制方法及裝置，利用本技術可實現批量化、高重復性寫入預定波長光纖光柵。本發明裝置包括紫外光激光器作為寫入系統的光源，精密掃描平臺用于控制紫外光的掃描，控制光束質量的反射鏡和柱透鏡系列，高精度砝碼以及砝碼放置盒。在寫入光纖光柵時，根據應力對中心波長偏移量的函數，獲得制作光柵目標波長時光敏光纖上所需應力，在砝碼放置盒中放入相應重量的砝碼，確保光敏光纖夾持器對光敏光纖施加額定的應力，實現波長精確可調、高重復性光纖光柵的寫入，采用同一塊相位掩模版，該系統可實現波長變化范圍2.4nm、0～14cm長度可調的波長精確的光纖光柵制作。 【專利類型】發明申請 【申請人】北京交通大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100044北京市西直門外上園村3號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610169804.X 【申請日】2006-12-29 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101009522A 【公開公告日】2007-08-01 【公開公告年份】2007 【IPC分類號】H04B10/18; H04B10/12; G02B6/34; H04B10/25 【發明人】寧提綱; 裴麗; 李彬; 彭健; 盧丹 【主權項內容】1.一種制作光纖光柵高重復性的控制方法及裝置，其特征在于本發明裝 置包括紫外光激光器(1)、固定在掃描平臺上(4)的反射鏡(3)、柱透鏡(5)、 相位掩模版(6)，光敏光纖夾持器(8)和(9)、高精度砝碼以及砝碼放置盒 (11)；紫外光激光器(1)輸出的紫外光(2)經過固定在掃描平臺(4)上的 反射鏡(3)，使紫外光(2)經柱透鏡(5)和相位掩模版(6)，對夾持在光纖 夾持器(8)和(9)之間的光敏光纖(7)曝光；光纖夾持器(8)固定，而光 纖夾持器(9)安放在光滑導軌上，其與導軌之間通過含油滾珠軸承(10)連 接，并可以在導軌上自由移動，光纖夾持器(9)另一端連接砝碼放置盒(11)。 【當前權利人】北京交通大學 【當前專利權人地址】北京市西直門外上園村3號 【統一社會信用代碼】1210000040088209X1 【被引證次數】5 【被自引次數】1.0 【被他引次數】4.0 【家族被引證次數】5
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