【摘要】本發明涉及一種輻射換熱裝置中的選擇性光學薄膜。對凡送體的所有不同 溫度所對應的波長的輻射盡可充分透過，唯獨對受體自身溫度范圍所對應波長的輻射全部反射，展示出帶阻濾波的特性。本光學薄膜與“鋁－氮－鋁”膜兩者的短波通作用等效；前者的帶阻
【摘要】 本發明提供了一種細菌納米磁小體純度的檢測 方法，該方法包括建立磁小體的標準品譜圖，建立待測磁小體 樣品譜圖，通過比較待測樣品譜圖和標準品譜圖得出檢測結論 等步驟。本發明所述的方法操作簡單，結果判斷直觀，結論可 靠性高，并有效保證了磁小體膜的完整性。。 【專利類型】發明申請 【申請人】中國農業大學 【申請人類型】學校 【申請人地址】100094北京市海淀區圓明園西路2號 【申請人地區】中國 【申請人城市】北京市 【申請人區縣】海淀區 【申請號】CN200610164835.6 【申請日】2006-12-06 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1971250A 【公開公告日】2007-05-30 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100554940C 【授權公告日】2009-10-28 【授權公告年份】2009.0 【發明人】李穎; 李想; 姜偉; 田杰生; 王珍芳 【主權項內容】1、一種細菌納米磁小體純度的檢測方法，其包括步驟： (1)建立磁小體標準品譜圖：采用γ射線照射對磁小體的標準 品進行滅菌處理，然后將磁小體懸浮于無菌的純水中，取樣滴加于硒 化鋅窗片，吹干后進行紅外譜區掃描，得到標準品譜圖； (2)建立待測樣品譜圖：對待測的磁小體樣品采用與上述步驟 (1)相同的方式進行滅菌、懸浮、滴樣、吹干處理，然后進行紅外 譜區掃描，得到待測樣品譜圖； (3)比較待測樣品譜圖和標準品譜圖，由特征吸收峰的峰位是 否一致來判斷待測樣品的純度。 【當前權利人】中國農業大學 【當前專利權人地址】北京市海淀區圓明園西路2號 【統一社會信用代碼】12100000400018162G
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