【摘要】一種同位素X螢光載流測定礦漿濃度的方法,采用低能光子源238Pu激發礦漿樣品,利用在線X熒光分析中一般作為干擾譜線處理的反散射峰強度測出與其對應的瞬時濃度值。可以在線測定含各種元素、任何范圍的礦漿濃度值。。該數據由整理【專利類型】發
【專利類型】外觀設計 【申請人】張立志; 郭慶 【申請人類型】個人 【申請人地址】湖北省武昌縣標準計量局 【申請人地區】中國 【申請人城市】武漢市 【申請人區縣】武昌區 【申請號】CN89300024.8 【申請日】1988-12-30 【申請年份】1988 【公開公告號】CN3007957S 【公開公告日】1991-02-06 【公開公告年份】1991 【授權公告號】CN3007957S 【授權公告日】1991-02-06 【授權公告年份】1991.0 【發明人】張立志; 郭慶 【主權項內容】無 【當前權利人】張立志; 郭慶 【當前專利權人地址】湖北省武昌縣標準計量局;
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