【摘要】1.件1～24后視圖無設計要點，省略件1～24后視圖。 2.件1右視圖與左視圖對稱，省略件1右視圖。 3.件1仰視圖與俯視圖對稱，省略件1仰視圖。 4.件2～24左視圖與件1左視圖相同，省略件2～24左視圖。 5.件2～24俯視圖與
【摘要】 本發明提供一種靜默電流偵測方法及其裝置，是利用一般半導體材料具有能帶間隙(energy bandgap)的特性。因此，無論該半導體組件是否被驅動，皆可判斷該半導體組件或其驅動控制電路的狀態。除了發光二極管之外，本發明的靜默電流偵測方法及其裝置尚可適用其它以具有能帶間隙材料制成的組件。 【專利類型】發明申請 【申請人】聚積科技股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】臺灣省新竹市埔頂路18號6F之4 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610076725.4 【申請日】2006-04-18 【申請年份】2006 【公開公告號】CN101059537A 【公開公告日】2007-10-24 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN100554974C 【授權公告日】2009-10-28 【授權公告年份】2009.0 【IPC分類號】G01R19/00; G01R31/00; G01R31/02; G01R31/50 【發明人】王弘宗 【主權項內容】1.一種靜默電流偵測裝置，其特征在于，包括： 一半導體組件，具有能帶間隙，并具有一第一接點及一第二接點； 一固定電源，于正常狀態下連接至該半導體組件的第一接點，以提供一 適當電位； 一驅動控制電路，具有一控制輸出端，該控制輸出端于正常狀態下連接 至該半導體組件的第二接點，以驅動該半導體組件； 一電位量測器，連接至該驅動控制電路的輸出端； 據此，無論該半導體組件是否被驅動，皆可通過該電位量測器的量測結 果，以判斷該半導體組件或其驅動控制電路的狀態。 【當前權利人】聚積科技股份有限公司 【當前專利權人地址】臺灣省新竹市埔頂路18號6F之4 【被引證次數】9 【被他引次數】9.0 【家族引證次數】9.0 【家族被引證次數】11
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