【摘要】1.左視圖與主視圖對(duì)稱，省略左視圖。 2.右視圖與主視圖對(duì)稱，省略右視圖。 3.后視圖與主視圖對(duì)稱，省略后視圖。 ：【專利類型】外觀設(shè)計(jì)【申請(qǐng)人】陳志達(dá)【申請(qǐng)人類型】個(gè)人【申請(qǐng)人地址】臺(tái)灣省臺(tái)中市民生路197號(hào)4F-3【申請(qǐng)人地區(qū)】
【摘要】 本發(fā)明揭示一種封裝載體的檢測(cè)方法，其是將一標(biāo)示測(cè)量圖形的透光測(cè)量片對(duì)準(zhǔn)于一封裝載體上，而檢視所述封裝載體上各細(xì)部構(gòu)造與所述透光測(cè)量片上測(cè)量圖形的相對(duì)位置關(guān)系。通過(guò)所述相對(duì)位置關(guān)系可以判斷所述封裝載體上各細(xì)部構(gòu)造何處不良。 【專利類型】發(fā)明申請(qǐng) 【申請(qǐng)人】南茂科技股份有限公司; 百慕達(dá)南茂科技股份有限公司 【申請(qǐng)人類型】企業(yè) 【申請(qǐng)人地址】中國(guó)臺(tái)灣 【申請(qǐng)人地區(qū)】中國(guó) 【申請(qǐng)人城市】臺(tái)灣省 【申請(qǐng)?zhí)枴緾N200610078938.0 【申請(qǐng)日】2006-04-27 【申請(qǐng)年份】2006 【公開公告號(hào)】CN101064266A 【公開公告日】2007-10-31 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號(hào)】CN100468678C 【授權(quán)公告日】2009-03-11 【授權(quán)公告年份】2009.0 【IPC分類號(hào)】H01L21/66 【發(fā)明人】盧一成; 劉光華; 沈更新 【主權(quán)項(xiàng)內(nèi)容】1.一種封裝載體的檢測(cè)方法，包含下列步驟： 將一標(biāo)示測(cè)量圖形的透光測(cè)量片對(duì)準(zhǔn)于一封裝載體； 檢視所述封裝載體上至少一細(xì)部構(gòu)造與所述透光測(cè)量片的所述測(cè)量圖形的相對(duì) 關(guān)系；和 根據(jù)所述相對(duì)關(guān)系判斷所述封裝載體的不良。 【當(dāng)前權(quán)利人】南茂科技股份有限公司; 百慕達(dá)南茂科技股份有限公司 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】中國(guó)臺(tái)灣; 百慕大漢米頓 【被引證次數(shù)】1 【被自引次數(shù)】1.0 【家族引證次數(shù)】3.0 【家族被引證次數(shù)】3
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