【摘要】一種雙軸樞扭器，主要在與水平轉軸覆蓋呈垂直連接的垂直轉軸上，設置有一組定位作用的凸輪組，其中的固定凸輪與垂直轉軸一體成型，而轉動凸輪則與一支架嵌接而可一同在垂直軸上轉動。從而，通過固定凸輪與垂直轉軸一體成型，可降低組合零件個數外，并
【摘要】 本發明揭示用以啟動待測電路中內建式自我測試的方法與系統。在至少一個存儲器模塊中配置具有預定尺寸的至少一個存儲器區段作為測試結果模塊后，啟動適用于待測電路的內建式自我測試，其中測試結果模塊并沒有被測試。測試結果存儲于測試結果模塊中。 【專利類型】發明申請 【申請人】臺灣積體電路制造股份有限公司 【申請人類型】企業 【申請人地址】中國臺灣新竹市 【申請人地區】中國 【申請人城市】臺灣省 【申請號】CN200610164288.1 【申請日】2006-12-08 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1979690A 【公開公告日】2007-06-13 【公開公告年份】2007 【授權公告號】CN1979690B 【授權公告日】2010-05-19 【授權公告年份】2010.0 【IPC分類號】G11C29/12 【發明人】莊建祥 【主權項內容】1.一種內建式自我測試啟動方法，適用于啟動待測電路中的內建式自我 測試，包括： 在至少一個存儲器模塊中配置具有預定尺寸的至少一個存儲器區段，作 為測試結果模塊； 啟動適用于上述待測電路的內建式自我測試；以及 存儲測試結果于上述測試結果模塊中。 【當前權利人】臺灣積體電路制造股份有限公司 【當前專利權人地址】中國臺灣新竹市 【被引證次數】12 【被他引次數】12.0 【家族引證次數】5.0 【家族被引證次數】41
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